龙岩测试仪表外校压力表

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世通仪器关于高温微压力传感器校准实的研究

在航天领域，常常需要在恶劣环境下实时测量环境的各种相关参量，其中就包括微小压力测量。由于测试工作处于高温、高热流、强电磁干扰、剧烈振动等恶劣的条件下，并且待测压力微小，此外还要求小型化、低功耗，故而传统的硅微压力传感器已难以满足测试需求。

在耐压测试前，因为进行了接线的检测，即使只花了很少的时间，还是增加了接触时间，这是该方法的欠缺。监测电压外加部分的电压耐压测试仪所显示的电压，是发生端的电压，并不是被测物电压外加部分的电压。所以如果接线正常，发生端电压和电压外加部分电压应该是相同的。如果断线或接触 ，电压外加部的电压会小于发生端的电压，这时即可判断为接线有异常。因为能够检测出耐压测试中接线的异常，且对于生产线的接触时间又没什么影响，这一点是比较便利的。
相比之下光纤压力传感器有着无可比拟的优势:测量精度高、抗电磁干扰能力良好、绝缘性能好、性能稳定等，因此光纤压力传感器*接近测试需求。F-P光纤压力传感器更是以极高的测量灵敏度和精度、成熟的微压测量技术成为*，且只需在探头结构上辅以耐高温技术手段，使其能够适应高温环境，即能*终满足测试的要求。

高温微压力传感器基于F-P干涉敏感原理，使用耐高温材料外壳和支撑架，部件连接采用固体焊接等耐高温工艺，实现了在无引压管情况下对800℃高温介质微小压力的直接测量，并且通过对性敏感组件等易损件采取专门的限位、加固措施，提高了抗冲击、振动能力。
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而使用ZLG的AWTK，能够实现十分酷炫的显示和操作效果，并且能够实现跨的发，让呆板的界面一去不返。AWTK显示界面产品往往需要对数据分析，如何将数据立体直观的显示出来？是界面设计的一大难点。AWTK内置很多不同显示形式的设计，包括仪表盘、饼图、曲线图、柱状图等。能够直接展现数据，告别人为分析、呆板设计。AWTK显示界面工业控制随着计算机以及控制技术的发展，传统的工业控制技术已经逐渐地被智能控制技术所替代，智能化工业控制系统的发展为工业领域的发展了 强的技术保证，是推动企业持续创新发展的有效途径。
为了在地面实验室模拟传感器的实际测量环境，我们设计了一种适用于高温微压力传感器的仪器校准实验系统，通过高低温真空试验装置和人机软件的结合，为仪器校准了一个稳定可靠、安全便捷的实验。

1、传感器测量原理

(1) 微压力测量原理

高温微压力传感器采用的是F-P干涉敏感原理，根据Fabry-Perot共振效应，F-P共振腔反射光的波长变化与两反射面之间的距离呈函数关系。如图1所示，为传感器原理示意图，感压反射面及其支撑膜片和静止反射面就构成了一个完整的F-P共振式压力敏感结构。根据薄膜性形变原理，压力敏感膜片在外界压力的作用下发生形变，从而改变F-P腔腔长，引起干涉谱变化，通过测量干涉光谱，即可得到作用在压力敏感膜上的压力变化，从而达到测量压力的目的。该结构的特点是灵敏度极高，可感受两个镜面之间纳米级的位移变化，可满足500 Pa微小压力的测量需要。

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CAN控制器结构但CAN没有规定应用层。也就是没有规定与实际应用相关的逻辑，比如关量输入输出，模拟量输入输出。所以本身对于应用来说，是不完整的。这就像铁矿石（物理层）冶炼成铁锭（数据链路层），然后针对具体应用，再成汽车、轮船、钢筋、坦克、钢结构建筑等等。如所示。从物理层到应用层基本每个行业的CAN应用，都需要一个高层协议来定义CAN报文中的11/29位标识符、8字节数据的使用。

(2) 传感器的仪器校准原理

在传感器探头确定的情况下，参数k1,k的值可以通过公式直接计算求得，而温度敏感系数k2以及补偿修正常数C则需要通过校准实验才能确定。

将被校传感器与压力、温度标准具置于同一载荷环境，通过标准具得到压力、温度的标准量，通过解调模块得到传感器的输出值。将标准输人量与被校传感器的输出值绘制成传感器的校准曲线，再根据校准数据采用*小二乘法确定传感器的工作直线，用工作直线反映传感器的输人和输出之间的关系，从而确定k2及C的取值。通过校准曲线与工作直线的比较，可以计算得到被校传感器的静态基本性能指标。

龙岩测试仪表外校压力表用户必须购一个高于他们实际需要的较高功率的电源。若在23VAC时需要15VA，客户需要购一个在4VAC量程条件下输出功率达到25VA甚至更高的电源超越额定电流限制的ix2技术为了超越这种额定电流的限制，AMETEK程控电源部研发了ix2电流倍增技术，并将其应用在了新一代的高性能程控交直流电源产品Asterion上。使用这个电流倍增技术后，使其在很宽的电压范围内都可以达到满功率输出。