◆ 规格说明:
产品规格 |
8*8 |
产品数量 |
|
包装说明 |
卖家 |
价格说明 |
电议 |
◆ 产品说明:
2022欢迎访问##聊城BAP896MT智能电力仪表价格
湖南盈能电力科技有限公司,专业
仪器仪表及自动化控制设备等。主要产品有:数字电测仪表,可编程智能仪表,显示型智能
电量变送器,多功能电力仪表,网络电力仪表,微机
电动机保护装置,凝露控制器、温湿度控制器、智能凝露温湿度控制器、关状态指示仪、关柜智能操控装置、
电流互感器过电压
保护器、断路器分合闸线圈保护装置、DJR
铝合金加热器、EKT柜内空气调节器、GSN/DXN-T/Q高压带电显示、干式(油式)
变压器温度控制仪、智能除湿装置等。
本公司全系列产品技术性能指标全部符合或优于 标准。公司本着“以人为本、诚信立业”的经营原则,为客户持续满意的产品及服务。
波形本质的图解
示波器带宽的内涵奥林匹克的口号是“更快、更高、更强”,在示波器上的“更快”,则是对带宽的要求。示波器中的模拟通道,简化来看就是个低通
滤波器。它对频率越高的信号,衰减就越严重。一般会把信号功率衰减了-3dB时的频率,定义为示波器的带宽。当然,目前示波器的模拟技术发展神速,在示波器标定的带宽频率点时,会有一定的裕量,所以在示波器的带宽频率点,幅度的衰减是-3dB以内的。特别说明的是,探头也是组成测量系统的重要一环,若测试中使用到探头,则必须考虑探头对带宽的影响。
红外避障:红外线的应用我们并不陌生:从电视、
空调的
遥控器,到酒店的
自动门,都是利用的红外线的感应原理。而具体到无人机避障上的应用,红外线避障的常见实现方式就是三角测量原理。红外感应器包含红外发射器与C
CD检测器,红外线发射器会发射红外线,红外线在物体上会发生反射,反射的光线被CCD检测器接收之后,由于物体的距离D不同,反射角度也会不同,不同的反射角度会产生不同的偏移值L,知道了这些数据再经过计算,就能得出物体的距离了,如下图所示。
当
电池板中有一块不能良好工作,则只有这一块都会受到影响。其他光伏板都将在工作状态运行,使得系统总体效率更高,发电量更大。在实际应用中,若组串型
逆变器出现故障,则会引起几千瓦的电池板不能发挥作用,而微型逆变器故障造成的影响相当之小。微逆变器几大优点尽量提高每一逆变
电源模块的发电量,跟踪功率,由于对单块组件的功率点进行跟踪,可大大提高光伏系统的发电量,可提高25%。通过调整每一排光电板的电压和电流,直至全部取得平衡,以免系统出现失配。
无线高低压钳形电流表产品功能:6kV以下交流漏电流、电流测试。(6V以上使用绝缘杆操作)。产品特点:1.电流钳采用磁屏蔽及CT数字集成技术,抗干扰强,精度高,测试稳定。创新的自动插拔结构,通过按压或退拔绝缘杆能方便钳夹或撤离被测导线,安全省时快捷。采用无线传输方式,传输距离3m。能穿透墙壁等障碍,使用更便捷。峰值保持功能。数据保持功能。数据存储功能。型号对比:无线高低压叉形电流表产品功能:6kV以下交流电流在线测量(6V以上使用绝缘杆操作)。
容错CAN简介先来了解一下容错CAN,容错CAN的物理层是由CAN-CAN-L、GND三根线组成的。下为CAN总线通信信号的示意图:CAN总线通信信号由图中我们可以看出,CAN-CAN-L的电压幅值在显隐性发生变化时幅值变化高达4V,这样不仅可以保证正常状态下CAN总线的稳定工作,还可以保证CAN总线中CAN-CAN-L其中一条发生故障(短路或者断路)时,容错CAN收发器会自动识别总线状态,根据总线状态出调整(具体见下表1),保证了CAN总线在故障时的通讯正常。
然而,艾德克斯IT8300能量回馈式电子负载就解决了这些问题。本文将就工程师们关心的典型问题,尤其涉及到IT8300优点的问题以及艾德克斯IT8300厂家给出的答复。Q:使用能量回馈式电子负载,电表会往回转,电给电网吗?A:IT8300反馈了95%的电能回馈到厂内AC电网。在多数情况下,从IT8300反馈回的电能远远小于本地配电网的电能消耗。电表不会往回转,但是它会明显转得慢很多。Q:IT8300可以与独立
直流电源连接吗?A:是的,如果厂内有一台独立
电源,IT8300是可以和其连接的,比如发电机、光伏系统或者电池,这些待测物不从电网上吸收电能。
半导体生产流程由晶圆,晶圆测试,芯片封装和封装后测试组成,晶圆和芯片封装讨论较多,而测试环节的相关知识经常被边缘化,下面集中介绍集成电路芯片测试的相关内容,主要集中在WAT,CP和FT三个环节。集成电路设计、、封装流程示意图WAT(WaferAcceptanceTest)测试,也叫
PCM(ProcessControlMonitoring),对Wafer划片槽(ScribeLine)测试键(TestKey)的测试,通过电性参数来监控各步工艺是否正常和稳定,CMOS的电容,电阻,Contact,metalLine等,一般在wafer完成制程前,是Wafer从Fab厂出货到封测厂的依据,测试方法是用ProbeCard扎在TestKey的metalPad上,ProbeCard另一端接在WAT测试机台上,由WATRecipe自动控制测试位置和内容,测完某条TestKey后,ProbeCard会自动移到下一条TestKey,直到整片Wafer测试完成。