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湖南盈能电力科技有限公司，专业仪器仪表及自动化控制设备等。电力电子元器件、高低压电器、电力金具、电线电缆技术研发；防雷装置检测；仪器仪表，研发；消防设备及器材、通讯终端设备；通用仪器仪表、电力电子元器件、高低压电器、电力金具、建筑材料、水暖器材、压力管道及配件、工业自动化设备销；自营和各类商品及技术的进出口。
的产品、的服务、的信誉，承蒙广大客户多年来对我公司的关注、支持和参与，才铸就了湖南盈能电力科技有限公司在电力、石油、化工、铁道、冶金、公用事业等诸多领域取得的辉煌业绩，希望在今后一如既往地得到贵单位的鼎力支持，共同创更加辉煌的明天！
本地可方便地重构上/下路波长，从而避免O/E/O的转换，节省相关费用。这也有助于减少时延，透明的比特率，有利于网络的规划、管理和维护。第2代ROADM多维度可重构架构2个维度以上互连的ROADM架构能够完成2个以上方向或自由度互连，可以满足组多个环网或者网状网的需求，核心器件是波长选择关（WSS）。WSS的特点是每个波长都可以被独立地。
在工程师使用示波器测量信号时，可能会发现不同的时基档下所测到的波形频率不同。如果这个信号并非是叠加信号，那么可能就是示波器出现波现象了。本文重点分享示波器波现象的形成原因以及方法。数字示波器的波现象图1.数字示波器观察到的波现象在使用数字示波器时，是否会遇到输入信号频率为10MHz，而示波器测量出来却是远小于10MHz频率的信号波形，你可能会认为这是一个高频率小信号叠加低频率大信号，请不要急着这样的结论，可能此时已经出现了波现象了。
对有源天线阵列进行校准需要很长的生产测试时间。大型阵列可能包含成百上千个阵元，有必要通过表征这些阵元间的相位和增益关系，以确保精密的波束赋形。而且，进行阵元调整所需的测试时间会随着阵元数量的增加而大幅增长。使用多个相参测量通道能够有效地缩短测试时间。现在通常使用一台多端口网络分析仪在天线上执行相对增益和相位测量，一般是通过关矩阵对所有的天线端口或通道执行这种测量。这会产生很长的测试时间，尤其是对包含成百上千阵元的阵列。
同时集成高精度功率计，实现高达99次的谐波分析与实时的电气测试测量；配备GUI监控软件，可对交流电源进行实时监控，并多元的简捷操作体验。高性能可编程交流电源适用于电子产品研发、认证、生产检验等阶段的测试，集成完善的保护功能（OVP/OCP/OPP/OTP等），可轻松应对复杂的测试应用。PSA系列高性能可编程交流电源特色：输出交流电压范围：~15/~3Vrms；输出直流电压范围：~212/~424V；输出频率范围：1~2Hz；交流输出功率：2~21KVA；测试精度，可达.2%；高功率密度设计，4U/6KW/3-phase；输出模式：ADAC+DC；W交流电源自由切换单相或三相模式；可调初始/结束相位角、电压变化率；集成List、Step、线路等功能，实现电压波动输出；集成高精度功率计，可实时量测如电压、电流、功率 /28/29等标准的电压波动测试（专业版）；谐波、宽基波频率，高达5阶谐波， 模拟失真电网（专业版）；强大谐波分析功能，高达99阶谐波成分分析；USB接口支持导入导出，包括系统参数、波形库、编程波形参数；内置多种类型波形数据，可快捷调用（专业版）；支持多机并联输出，可实现大功率单相或三相交流电源；标配RS-232/USB/Ethernet等通讯接口；交流电源标准版与专业版，满足多种应用场景的需求。
热成像数据与其他传感器采集而来的数据互相整合兼容尤为关键。”鲜义表示，“FLIR的数据可以与机器人系统软件实现有效兼容，这是成功的关键因素。”FLIR红外热像仪被于机器人上、轨道上、固定支架上，与高清可见相机、高灵敏音频采集设备、WiFi等设备 协同动作，以±2℃或2%读数的测温结果保障每处电力设备现象+进行检测和缺陷诊断分析，及时发现设备潜在缺陷并发出预的安全运作。可监测异常提高可靠性“在智能巡检机器人上FLIR热像仪，可以监测电力设备的异常。
FLIR工具应用程序可连接热成像仪与设备，从而使您能够对现场热进行流、采取远程控制、分析存储的图像，并迅速通过电子邮件传送现场发现。FLIRMeterlink测试与测量工具可直接向相机传输可读数据，相机会在您捕获数据时存储辐射图像的数据，以用于报告中。FLIR工具报告软件还更多功能，可以将更多测量工具添加到图像中，生成深入的报告以及更新相机固件等。提高生产力更多内置功能带来更强大的效能触摸屏与操作简单的按钮灵敏度如同智能手机的 系统与指南针自动嵌入指向方向和地理位置注解加入语音或文字注释图像或使用触摸屏来勾画。
无论是实验室环境还是生产车间，都需要采用更的半导体测试方法。半导体测试是NI的战略重点。我们正在扩展我们的软件和PXI功能，以帮助芯片商应对他们面临的挑战，这一点通过NI的PXISMU可以完全体现出来。”由于其高吞吐量、高性价比和占地面积小，NI的半导体测试系统(STS)正在快速应用到芯片生产中。全新的PXIe-4163SMU则进一步增强了这些功能，它能更高的直流通道密度，使多站点应用具有更高的并行性，以及在生产中实验室级别的测量质量。