测试仪表校验中山-CNAS检测公司

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世通仪器关于高温微压力传感器校准实的研究
在航天领域,常常需要在恶劣环境下实时测量环境的各种相关参量,其中就包括微小压力测量。由于测试工作处于高温、高热流、强电磁干扰、剧烈振动等恶劣的条件下,并且待测压力微小,此外还要求小型化、低功耗,故而传统的硅微压力传感器已难以满足测试需求。

泄漏电流是指在没有故障施加电压的情况下,电气中带相互绝缘的金属零件之间,或带电零件与接地零件之间,通过其周围介质或绝缘表面所形成的电流称为泄漏电流。按照美国UL标准,泄漏电流是包括电容耦合电流在内的,能从家用电器可触及部分传导的电流。泄漏电流包括两部分,一部分是通过绝缘电阻的传导电流I1;另一部分是通过分布电容的位移电流I2,后者容抗为Xc=1/2πfc与电源频率成反比,分布电容电流随频率升高而增加,所以泄漏电流随电源频率升高而增加。
相比之下光纤压力传感器有着无可比拟的优势:测量精度高、抗电磁干扰能力良好、绝缘性能好、性能稳定等,因此光纤压力传感器*接近测试需求。F-P光纤压力传感器更是以极高的测量灵敏度和精度、成熟的微压测量技术成为*,且只需在探头结构上辅以耐高温技术手段,使其能够适应高温环境,即能*终满足测试的要求。
高温微压力传感器基于F-P干涉敏感原理,使用耐高温材料外壳和支撑架,部件连接采用固体焊接等耐高温工艺,实现了在无引压管情况下对800℃高温介质微小压力的直接测量,并且通过对性敏感组件等易损件采取专门的限位、加固措施,提高了抗冲击、振动能力。
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在任何给定时间内,物联网(IoT)中大多数设备都可能处于空闲状态。通常,仅需要IoT传感器以不频繁的时间间隔进行测量,并向信号收集器发送少量结果数据,然后返回耗能状态,直到进行下一次测量。有的智能传感器可通过小型电池供电,无需充电或更换即可使用数年。如果能够消除 连接电源的需求,传感器就可实现无限期部署,并可得更小、更轻。这为新型传感器发创造了机会,可以舒适穿戴的非侵入式医学传感器。
为了在地面实验室模拟传感器的实际测量环境,我们设计了一种适用于高温微压力传感器的仪器校准实验系统,通过高低温真空试验装置和人机软件的结合,为仪器校准了一个稳定可靠、安全便捷的实验。
1、传感器测量原理
(1) 微压力测量原理
高温微压力传感器采用的是F-P干涉敏感原理,根据Fabry-Perot共振效应,F-P共振腔反射光的波长变化与两反射面之间的距离呈函数关系。如图1所示,为传感器原理示意图,感压反射面及其支撑膜片和静止反射面就构成了一个完整的F-P共振式压力敏感结构。根据薄膜性形变原理,压力敏感膜片在外界压力的作用下发生形变,从而改变F-P腔腔长,引起干涉谱变化,通过测量干涉光谱,即可得到作用在压力敏感膜上的压力变化,从而达到测量压力的目的。该结构的特点是灵敏度极高,可感受两个镜面之间纳米级的位移变化,可满足500 Pa微小压力的测量需要。
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为了使用于LED供电电源设计的每分钱都充分发挥作用,我们在本文中提出了一个方案——封闭实际光输出的控制回路。半导体照明这一新兴领域的出现,使同时专长于电力电子学、光学和热管理学(机械工程)这三个领域的工程师成为抢手人才。目前,在三个领域都富有经验的工程师并不很多,而这通常意味着系统工程师或者整体产品工程师的背景要和这三大领域相关,同时他们还需尽可能与其他领域的工程师协作。系统工程师常常会把自己原领域养成的习惯或积累的经验带入设计工作中,这和一个主要研究数位系统的电子工程师转去解决电源管理问题时所遇到的情况相同:他们可能依靠单纯的模拟,不在试验台上对电源测试就直接在电路板上布线,因为他们没有认识到:关稳压器需要仔细检查电路板布局;另外,如果没有经过试验台测试,实际的工作情况很难与模拟一致。
(2) 传感器的仪器校准原理
在传感器探头确定的情况下,参数k1,k的值可以通过公式直接计算求得,而温度敏感系数k2以及补偿修正常数C则需要通过校准实验才能确定。
将被校传感器与压力、温度标准具置于同一载荷环境,通过标准具得到压力、温度的标准量,通过解调模块得到传感器的输出值。将标准输人量与被校传感器的输出值绘制成传感器的校准曲线,再根据校准数据采用*小二乘法确定传感器的工作直线,用工作直线反映传感器的输人和输出之间的关系,从而确定k2及C的取值。通过校准曲线与工作直线的比较,可以计算得到被校传感器的静态基本性能指标。

测试仪表校验中山-CNAS检测公司上升时间的定义上升时间是信号上升快慢的数值,那其准确的内涵该是如何定义了?说来话长,因为定义是比较严谨的,一环套一环。按常规理论:信号的上升时间是正向沿的较低阈值交叉点与较高阈值交叉点之间的时差。顾名思义,上升时间肯定是在信号的上升沿时测量的;较低阈值、较高阈值的设定值在某些示波器中是可以自定义的,默认为10%、90%幅值处。而幅值的定义,就是顶部值(Top)与底部值(Bottom)之差。顶部值,即波形较高部分的众数。

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