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2024欢迎访问##南阳TPM-QA抗晃电保护控制器一览表
湖南盈能电力科技有限公司,专业
仪器仪表及自动化控制设备等。主要产品有:数字电测仪表,可编程智能仪表,显示型智能
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频谱分析仪了实时频谱分析功能,在干扰环境下进行频谱测试或在正常工作状态下查找干扰是实时频谱分析功能的主要优势,同时还具有高截获概率以及快速准确的频谱分析测量能力。实时频谱分析功能广泛应用于瞬态、短时、偶发信号的测量与分析,测量显示界面如所示。实时频谱分析功能界面显示基于频谱统计的数字荧光频谱图是一个二维的直方图,它采用位图图像方式进行显示,每一个位图像素代表的是信号频率和幅度联合的统计信息,颜色的深浅(暖色调和冷色调)代表统计次数的高低,数字荧光视图如所示。
关于MOSFET很多人都不甚理解,这次小编再带大家仔细梳理一下,也许对于您的知识系统更加。下面是对MOSFET及MOSFET驱动电路基础的一点总结,其中参考了一些。在使用MOS管设计关
电源或者马达驱动电路的时候,大部分人都会考虑MOS的导通电阻,电压等,电流等,也有很多人仅仅考虑这些因素。这样的电路也许是可以工作的,但并不是的,作为正式的产品设计也是不允许的。
半导体生产流程由晶圆,晶圆测试,芯片封装和封装后测试组成,晶圆和芯片封装讨论较多,而测试环节的相关知识经常被边缘化,下面集中介绍集成电路芯片测试的相关内容,主要集中在WAT,CP和FT三个环节。集成电路设计、、封装流程示意图WAT(WaferAcceptanceTest)测试,也叫
PCM(ProcessControlMonitoring),对Wafer划片槽(ScribeLine)测试键(TestKey)的测试,通过电性参数来监控各步工艺是否正常和稳定,CMOS的电容,电阻,Contact,metalLine等,一般在wafer完成制程前,是Wafer从Fab厂出货到封测厂的依据,测试方法是用ProbeCard扎在TestKey的metalPad上,ProbeCard另一端接在WAT测试机台上,由WATRecipe自动控制测试位置和内容,测完某条TestKey后,ProbeCard会自动移到下一条TestKey,直到整片Wafer测试完成。
50Hz工频电磁场干扰是硬件发中难以避免的问题,特别是敏感测量电路中,工频电磁场会使测量信号淹没在工频波形里,严重影响测量稳定度,故消除工频电磁场干扰是敏感测量电路设计中不可逃避的挑战。PT100是当前应用 为广泛的测温方案,各位工程师在应用此方案时是否会遇到这样的问题:为什么PT100测温电路会存在周期性小波动?该如何解决?其实出现这样的现象主要可能是存在如下几个原因:-50Hz工频电磁场的影响;-周围电机或者
继电器等关动作造成的群脉冲干扰;-传导进去系统的工频共模干扰。
当某一部分的可靠性指标无法满足时,可采用冗金设计方案来实现。国外孔板
流量计不仅注重仪表本身的可靠性设计,并对使用可坏性也要加以设计考虑。一般电孔板流量计产品的可靠性属于指数分布,而机械件多的仪表其可靠性属于正态分布,实际计算起来并不很复杂。我国的孔板流量计设计应对此加以重视,这是产品质量的一个重要关键环节。注重维修性设计维修性不仅包括使用中产品的维修,还包括生产阶段孔板流量计的校准功能、调试功能和维修功能等技术指标,维修住必须在设计阶段加以保证。
在灾难面前,红外热成像到底能发挥怎样的作用?产品方案红外热成像仪,可应对严峻的室外环境,防尘防风防雨防,大大降低了误报的可能性,配合预软件,一旦探测到有人或车辆等企图侵入,就会立刻报。嵌入式智能分析技术的监控跟踪系统,可以用到它所具有入侵检测和自动跟踪功能模块,使边界入侵防范的问题得以解决,内置功能强大的报分析模块,性能可靠,降低误报率。红外热成像仪工作原理我们首先来了解下红外热像仪的工作原理,自然界中的一切物体,只要其温度高于零度(-273℃),都能辐射电磁波,红外线辐射是自然界存在的一种 为广泛的电磁波辐射,它是基于任何物体在常规环境下都会产生的自身的分子和原子无规则运动,并不停地辐射出热红外能量。
工作时
激光器发射1束激光射向激光位敏
传感器,传感器内的PSD芯片监测接收到的激光能量中心位置。定心套用来保证传感器一直处于炮管内孔的中心位置。当炮管在检测位置出现弯曲时,PSD芯片上的激光能量中心坐标值将发生变化。位置检测单元的
电源线和数据线通过推杆中心孔与控制柜连接。结语直线度测
量仪可以适用于多种轧材的外径尺寸的检测,运动中的线棒材的外径测量,内径测量等,测量方法多样,可根据测量需求选择合适的测量方法。