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为安全起见，一般我们应当在可燃气体浓度在LEL的10%和20%时发出报，这里，10%LEL称。作告报，而20%LEL称作危险报。这也就是我们将可燃气体检测仪又称作LEL检测仪的原因。需要说明的是，LEL检测仪上显示的 不是可燃气体的浓度达到气体体积的 ，而是达到了LEL的 ，即相当于可燃气体的下限，如果是 ， LEL=4%体积浓度。在工作中，以LEL方式测量这些气体的检测仪是我们常见的催化燃烧式检测仪。
一般来说，示波器都必须具备双轨迹输出显示装置，同时内建有IEEE-48IEEE-1394或RS-232等介面功能以便与绘图仪器连结，而利于后续量测显示资讯输出与绘图的研究比较之用。只是示波器缺点在于只侷限于低频信号，对于高频信号的分析便成为一大挑战。频谱分析仪的优势，正是在于弥补示波器针对高频信号分析的不足，并可同时将多频信号以频域的方式来呈现，以方便辨识各不同频率的功率装置，并显示信号在频域里的特性。
当某一部分的可靠性指标无法满足时，可采用冗金设计方案来实现。国外孔板流量计不仅注重仪表本身的可靠性设计，并对使用可坏性也要加以设计考虑。一般电孔板流量计产品的可靠性属于指数分布，而机械件多的仪表其可靠性属于正态分布，实际计算起来并不很复杂。我国的孔板流量计设计应对此加以重视，这是产品质量的一个重要关键环节。注重维修性设计维修性不仅包括使用中产品的维修，还包括生产阶段孔板流量计的校准功能、调试功能和维修功能等技术指标，维修住必须在设计阶段加以保证。
可控硅检测方案分析电控系统长时间运行后，电发动机会出现跳闸等故障。基于此，对可控硅性能好坏进行检测，对于系统的日常维护、保证正常运转具有十分重要的意义。通常对电气设备的检测设备及方法有万用表、漏电仪、摇表，另外，还可以利用示波器观测导通电流以判断可控硅导通情况。在实际生产中，仅采用万用表无法判断可控硅的故障。下面对几种检测方法进行对比，以得出可控硅检测的方法。漏电仪检测法（耐压试验）采用大电流发生器（简称升流器）对可控硅K两极之间进行漏电试验。
增益压缩测量轨迹图中轨迹含义如下：表1压缩参数表通过一次测量，即可得到全频段的压缩点，并且可以将压缩点的输入功率，输出功率，增益等信息一次显示出来。每条轨迹都支持幅度，相位，史密斯圆图，极坐标等多种格式的显示。通过压缩参数与线性S参数的对比，可以看出放大器在线性区和饱和区的工作状态发生了哪些改变。如果要获得更多的参数，可以选择增加轨迹，来获得更多信息。扫描方法放大器增益压缩测量有三种扫描方法：智能扫描和两种二维扫描。
在过去25年里，微控制器的内部外设发生了巨大的变化。 初许多微控制器只包含RAM、ROM，也许还有基本的定时器。随着微控制器的发展，更多的外设被基础到这种单价不超过一美元的器件中。定时器/计数器、PWM和包括UART、SPI和I2C在内的标准串行接口常用于这些廉价的微控制器。另一个重大变化是32位CPU正在取代同一价格范围的8位器件。但是即便有如此丰富的特性，对于廉价微控制器而言，随时都存在微控制器厂商不能迅速支持的项目 硬件接口或新的第三方接口。
本文用一个具体的例子比较在电压轨上完成电流检测的几种不同方法。种方法是使用带分立电阻器的单运放差分放大器；第二种方法是用V+而不是地作为参考轨；第三种方法在IC解决方案中很常见，在这种方案中，晶体管和运算放大器一起工作，以接地参考电流测量。针对在电压轨上实现电流检测的不同方法，绝大多数直流电流检测电路的核心设计思路，是从供电线路中的电阻下手（尽管磁场感应是个好选择，尤其是在电流较高的情况下）。人们只需简单地测量电阻两端的电压降，并根据需要调节阻值来读取电流（E=I×R，如果不包含这个，有人会抱怨）。