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如何可靠地校准这些校准器,保证可靠地量值溯源性,是一项技术性很强的工作。目前国内各有些校准实验室在校准这些校准器的工作中,还存在一些问题。有时候,其校准不确定度并不能满足技术要求。本文对这些问题了分析,并提出了解决方法。存在的问题校准仪器时,有一个 基本的要求,就是要求被校仪器的不确定度远大于校准标准的不确定度。它们之间的比率称为不确定度比率TUR。一般要求TUR至少大于4:1或者3:1。达到要求,可以展校准或检定;达不到要求,只能进行仪器间的比对测量。
减小地线导体电阻,从电阻与横截面的关系公式中我们知道,要增加地线导通的横截面积。但是在高频环境中,存在一种高频电流的趋肤效应(也叫集肤效应),高频电流会在导体表面通过,所以单纯增大地线导体的横截面积往往作用不大。可以考虑在导体表面镀银,因为银的导电性较其他导电物质,故而会降低导体电阻。减小地线的感抗,的方法就是增大地线的面积。在实际应用时,地线短,地面积大,抗干扰的效果就会更好。
EMI测试技术目前诊断差模共模干扰的三种方法:射频电流探头、差模网络、噪声分离网络。用射频电流探头是测量差模共模干扰 简单的方法,但测量结果与标准限值比较要经过较复杂的换算。差模网络结构比较简单,测量结果可直接与标准限值比较,但只能测量共模干扰。噪声分离网络是的方法,但其关键部件
变压器的要求很高。目前干扰的几种措施形成电磁干扰的三要素是干扰源、传播途径和受扰设备。因而,电磁干扰也应该从这三方面着手。
可靠性是对产品耐久力的测量,我们主要典型的
IC产品的生命周期可以用一条浴缸曲线来表示。集成电路的失效原因大致分为三个阶段:阶段被称为早期失效期,这个阶段产品的失效率快速下降,造成失效的原因在于IC设计和生产过程中的缺陷;第二阶段被称为偶然失效期,这个阶段产品的失效率保持稳定,失效的原因往往是随机的,比如温度变化等等;第三阶段被称为损耗失效期,这个阶段产品的失效率会快速升高,失效的原因就是产品的长期使用所造成的老化等。
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反摩尔定律逼着所有的硬件设备公司必须赶上摩尔定律所规定的更新速度,而所有的硬件和设备生产厂活得都是非常辛苦的。曾经引领风骚的太阳公司就是受反摩尔定律影响的例子,其由于无法跟上整个行业的速度,被IT生态链上游的软件公司甲骨文并购了。A
MD要不是因为对英特尔反垄断的限制,恐怕也已经不存在了。积极影响:反摩尔定律促成科技领域质的进步,并为新兴公司生存和发展的可能。和所有事物的发展一样,IT领域的技术进步也有量变和质变两种。
如下.2.3几个方面的应用:与我们生产生活紧密相关的通信系统中,许多问题的出现可能是由该系统中的组件故障导致的,而传输线故障通常是 频繁发生的,线路的老化、雨水的腐蚀、以及恶劣的天气等等都是影响线路稳定性的原因, 终这些隐患就可能会导致线路故障的发生。使用DTF可以及早发现连线路的问题隐患,在电缆被氧化腐蚀之前进行积极,很大程度上避免通信中断事故的发生,借助DTF功能监测单个传输线的轻微衰减,并在发生严重损坏之前及早解决问题相比事故的成本则会低很多。