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如果放电速度过慢，就会出现通信问题。解决方法：增加终端电阻。CAN收发器结构示意图2.组网节点数少，通信正常，增加节点后，通信异常。可能原因：总线电容过大。总线电容过大会影响CAN差分波形上升下降速度，如。解决方法：a.检查CAN节点接口的外围电路，是否有外加电容、TVS管等器件，适当去除，以降低电容；降低工作波特率。波特率降低可以延长位时间，减小电容的影响，但若电容过大，则不一定有效。总线电容影响波形图3.应用中易损坏，更换模块后正常。
X射线光谱分析仪的好坏常常是以X射线强度测量的理论统计误差来表示的，BX系列波长色散X射线荧光仪的稳定性和再现性，已足以保证待测样品分析测量的精度，被分析样品的制样技术成为影响分析准确度的至关重要的因素，在样品方面所花的工夫将会反映在分析结果的质量上。X射线荧光仪器分析误差的来源主要有以下几个方面：1.采样误差：非均质材料样品的代表性2.样品的：制样技术的稳定性产生均匀样品的技术3.不适当的标样：待测样品是否在标样的组成范围内标样元素测定值的准确度标样与样品的稳定性4.仪器误差：计数的统计误差样品的位置灵敏度和漂移重现性5.不适当的定量数学模型：不正确的算法元素间的干扰效应未经校正颗粒效应纯物质的荧光强度随颗粒的减小而增大，在多元素体系中，已经证明一些元素的强度与吸收和增应有关，这些效应可以引起某些元素的强度增加和另一些元素的强度减小。
漏电与短路的本质相同，只是事故发展程度不同而已，严重的漏电可能造成短路。对照明线路的漏电，切不可掉以轻心，应经常检查线路的绝缘情况，尤其是发现漏电现象时，应及时查明原因，找出故障点，并予以消除。照明线路漏电的主要原因是：一是导线或电气设备的绝缘受到外力损伤；二是线路经长期运行，导致绝缘老化变质；三是线路受潮气侵袭或被污染，造成绝缘 。首先，判断是否确实漏电。可用指针式万用表的R×10k档测测量路绝缘电阻的大小，或数字万用表置于交流电流档(此时相当于一个电流表)，串联在总关上，接通全部关，取下所有负载(包括灯泡)。
由于LEM传感器大多数是电流型的传感器，在使用大量程时，会给配套使用的仪器出了一些难题——当电流比较小时无法准确测量。以致远电子PA333H高 S举例，传感器的变比是1:1000，也就是经过传感器后的电流都被缩小1000倍。PA333H电流端子的量程为1A，能准确测量的电流为量程的1%，也就是10mA。当使用IT1000-S后，我们进行反推，电流放大1000倍，也就是此时使用传感器后，PA333H能测量的电流是10A，当电流小于10A后，就无法完成测量了。
如果此时改用0.7ns的探头，则输出的上升时间为：上升时间仅仅退化了0.24%。所以测量时，就需要尽量选择上升时间远小于被测信号上升时间的探头，一般需要3~5倍。输入电压输入电压是指探头可以输入的额定值的电压。输入电压取决于探头机身和探头内部器件的额定击穿电压。一般该项会通过一些安规规范来给出，而不是给出单一的电压，比如一般10×的无源探头的输入电压为300VRMSCATⅡ。其中CATⅡ指的是一类测试场景，300VRMSCATⅡ指的是在这类测试场景下可以测量的电压。
很多客户在选择示波器的时候除了关注带宽、采样率和存储深度外，更关心的就是示波器的死区时间，死区时间的长短直接决定了捕获异常信号的能力大小。示波器的死区时间具体是多少，怎么去计算呢，即将揭晓。采样时间、死区时间和捕获时间数字示波器捕获信号的过程是典型的“采集--采集-”过程，如所示为数字示波器的采集原理，一个捕获周期由采样时间和（时间）死区时间组成，如所示。示波器采集原理图采样时间：是信号采样存储的过程。
否则,有可能造成光缆打滚折断纤芯。分纤将光纤穿过热缩管。将不同束管，不同颜色的光纤分，穿过热缩管。剥去涂覆层的光纤很脆弱，使用热缩管，可以保护光纤熔接头。打古河S176熔接机电源，采用预置的42种程式进行熔接，并在使用中和使用后及时去除熔接机中的灰尘，特别是夹具，各镜面和V型槽内的粉尘和光纤碎未。CATV使用的光纤有常规型单模光纤和色散位移单模光纤，工作波长也有1310nm和1550nm两种。