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湖南盈能电力科技有限公司，专业仪器仪表及自动化控制设备等。电力电子元器件、高低压电器、电力金具、电线电缆技术研发；防雷装置检测；仪器仪表，研发；消防设备及器材、通讯终端设备；通用仪器仪表、电力电子元器件、高低压电器、电力金具、建筑材料、水暖器材、压力管道及配件、工业自动化设备销；自营和各类商品及技术的进出口。
的产品、的服务、的信誉，承蒙广大客户多年来对我公司的关注、支持和参与，才铸就了湖南盈能电力科技有限公司在电力、石油、化工、铁道、冶金、公用事业等诸多领域取得的辉煌业绩，希望在今后一如既往地得到贵单位的鼎力支持，共同创更加辉煌的明天！
机动车对环境的电磁干扰已被视作与噪声、排放同等重要的公害，涉及到环境保护、人身健康、行驶安全等。机动车整车及零部件工作环境通常很恶劣，始终处于一个充满电磁相互干扰的环境，为了避免互相干扰，车辆必须具有优良的电磁兼容性能，同时也必须一个具有能够模拟并复现车辆电磁兼容性环境的测试实验室，来验证车辆的电磁兼容性能。机动车电磁兼容性测试技术随着电子技术和信息技术的发展，电磁兼容试验从 初的室外良好的电磁环境下的试验，一直发展到室内全天候 机动车电磁兼容实验室。
ETCR3数字式接地电阻测试仪专为现场测量接地电阻而精心设计的，采用数字及微技术，3线或2线法测量接地电阻，具有独特的线阻校验功能、抗干扰能力和环境适应能力，确保长年测量的高精度、高稳定性和可靠性。其广泛应用于电力、、气象、油田、建筑、防雷及工业电气设备等的接地电阻测量。ETCR3数字式接地电阻测试仪具有独特的线阻校验功能，对现场低值接地电阻测量更，能避免因测试线长时间使用线阻变化引起的误差；能避免因测试线未完全插入仪表接口或接触 引起的误差；能避免因用户更换或加长测试线引起的误差等。从被测物体始，每隔5～1米分别将P、C辅助接地棒呈一条直线深埋入大地，将接地测试线(绿、黄、红)从仪表的P、C接口始对应连接到被测接地极辅助电压极P、辅助电流极C上。不使用辅助接地棒的简易测量法，利用现有的接地电阻值的接地极作为辅助接地极，使用2条简易测试线连接(即其中P接口短接)。可以利用金属水管、消防栓等金属埋设物、商用电力系统的共同接地或建筑物的防雷接地极等来代替辅助接地棒P，测量时注意去除所选金属辅助接地体连接点的氧化层。
然而，尽管软件看起来像示波器，但它没有传统示波器所具备的高性能工具，也就无法进行故障诊断。在单个PXI插槽中真正的台式示波器性能是德科技的M9241A（200MHz）、M9242A（500MHz）和M9243A（1GHz）InfiniiVisionPXIe模块化示波器旨在为PXIe模块化系统传统台式示波器的可用性和性能。是德科技在高性能示波器方面拥有60多年的经验，并且利用这些知识打造了PXIe示波器，这些示波器超越了数字化仪与示波器软件的简单组合。
本篇着重介绍这些传感器系统的工作原理和通过它们可以测量什么。大部分可穿戴设备采用光电容积脉搏波描记法(PPG)来测量心率及其他生物计量指标。PPG是一种将光照进皮肤并测量因血液流动而产生的光散射的方法。该方法非常简单，光学心率传感器基于以下工作原理：当血流动力发生变化时，血脉搏率(心率)或血容积(心输出量)发生变化时，进入人体的光会发生可预见的散射。下介绍了光学心率传感器的主要元件和基本工作原理。
将万用表电阻挡拨到适当的量程，然后我们在进行欧姆调零， 使用两支表笔(不分正负)分别和电阻器的两端引脚相接，这样就能够测出实际的电阻值。 将测试值和电阻器的标称值进行核对，从而就可以很好的判断电位器或热敏电阻器是否完好。如万用表的指针是不动的，那么就表明内部的电阻体以及断了。电位器或者热敏电阻器的中心引脚都是和它内部的活动触点有连接的。我们使用万用表的两支表笔分别连接中心引脚以及其余的任一引脚，然后再徐徐的旋转轴柄，表头指针需要平稳地相应的，如指针有跳跃、跌落的现象，那么就说明可动接触点和电阻体是接触 的。
对链路层的解析就能得到节点ID号。若对一个“未加密”CAN总线链路层的解析，使用CAN总线接口卡（也称CAN盒）即可。这类工具能将CAN通讯转换为USPCI等通信方式，一般配合电脑使用。若要对CAN总线的分析，则需要专业的总线分析仪。CANScope是集CAN节点测试与标定、CAN总线故障诊断与解决的综合仪器。CAN总线抓包工具及方法多路CAN卡的应用以上提到的总线协议分析是在总线节点少、节点ID已知的前提下进行的。
对有源天线阵列进行校准需要很长的生产测试时间。大型阵列可能包含成百上千个阵元，有必要通过表征这些阵元间的相位和增益关系，以确保精密的波束赋形。而且，进行阵元调整所需的测试时间会随着阵元数量的增加而大幅增长。使用多个相参测量通道能够有效地缩短测试时间。现在通常使用一台多端口网络分析仪在天线上执行相对增益和相位测量，一般是通过关矩阵对所有的天线端口或通道执行这种测量。这会产生很长的测试时间，尤其是对包含成百上千阵元的阵列。