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8*8 |
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A1-R0-P0-D一览表
湖南盈能电力科技有限公司,专业
仪器仪表及自动化控制设备等。主要产品有:数字电测仪表,可编程智能仪表,显示型智能
电量变送器,多功能电力仪表,网络电力仪表,微机
电动机保护装置,凝露控制器、温湿度控制器、智能凝露温湿度控制器、关状态指示仪、关柜智能操控装置、
电流互感器过电压
保护器、断路器分合闸线圈保护装置、DJR
铝合金加热器、EKT柜内空气调节器、GSN/DXN-T/Q高压带电显示、干式(油式)
变压器温度控制仪、智能除湿装置等。
本公司全系列产品技术性能指标全部符合或优于 标准。公司本着“以人为本、诚信立业”的经营原则,为客户持续满意的产品及服务。
稳定性指标在厂家仪器说明中没有,用户只能凭对于仪器结构的判断和参观或询问其他长时间使用过的用户来判断。扫描速度扫描速度快可提高数据准确性,重复性和稳定性。不同厂家的仪器扫描速度不同,从1次/秒到1000次/秒。一般来讲,循环扫描测试次数越多,平均结果的准确性越好,故速度越高越好;式干法和喷雾更要求速度越高越好;自由降落式干法虽然速度不快,但由于粒子只通过样品区一次,速度也是快一些好。用户每天需要的样品量,也是考虑速度的因素。
看到他们对
示波器的操作,不测试之前的准备,拿起来就用,其实那样是不正确的,可能往往就是这个操作不正确导致测试结果失真,影响分析。即使一些很的工程师可能也不会注意到一些细节。不少工程师对示波器的认识度欠缺,如何更好的使用示波器还是有待提高的。下面就以我见到的很多工程师常犯的问题予以纠正,分享一下我掌握的一些知识。很多工程师直接拿起探头就测试,根本不去检查探头是否需要补偿,示波器是否需要校验。
和微波暗室的测试目的一样,TEMCELL也是一个模拟理想空间的
天线测试环境,金属箱能够足够的屏蔽功能来消除外部干扰对天线的影响,而内部的吸波材料也能吸收入射波,减小反射波。TEMCELL不能对天线进行无源测试,只能对有源指标进行测试。由于空间限制,TEMCELL的吸波材料比较薄,而对于劈状吸波材料,是通过劈尖间的多次反射增加对入射波进行吸收,因此微波暗室里的吸波材料都比较厚,而TEMCELL的吸波材料都不购厚,因此对入射波的吸收都不是很充分,因此会导致测试的结果不。
X射线光谱
分析仪的好坏常常是以X射线强度测量的理论统计误差来表示的,BX系列波长色散X射线荧光仪的稳定性和再现性,已足以保证待测样品分析测量的精度,被分析样品的制样技术成为影响分析准确度的至关重要的因素,在样品方面所花的工夫将会反映在分析结果的质量上。X射线荧光仪器分析误差的来源主要有以下几个方面:1.采样误差:非均质材料样品的代表性2.样品的:制样技术的稳定性产生均匀样品的技术3.不适当的标样:待测样品是否在标样的组成范围内标样元素测定值的准确度标样与样品的稳定性4.仪器误差:计数的统计误差样品的位置灵敏度和漂移重现性5.不适当的定量数学模型:不正确的算法元素间的干扰效应未经校正颗粒效应纯物质的荧光强度随颗粒的减小而增大,在多元素体系中,已经证明一些元素的强度与吸收和增应有关,这些效应可以引起某些元素的强度增加和另一些元素的强度减小。
LIN总线系统由于其相对较低的造价,LIN总线正被广泛应用于汽车的分布式电气控制系统中,如控制
电动车窗、调节后视镜和车前灯等部位的步进马达和
直流电源,或管理
传感器采集到的关于气温或座位位置的信息等。LIN总线的传输字节高达20kbps。基于单主节点、多个从节点的结构,通常,从节点在收发器、微控制器、传感器的接口或由分立元件组成的激励
驱动器的周围。 近研制出了一种带有LIN总线异步收发装置(UART)的微控制器,这种微控制器可同集成有
其它从节点模块(如LIN总线收发器、电压调节器、看门
定时器、激励驱动器和传感器接口)的附件一起配套使用。
玖锦科技的SGA1系列将信号源与分析仪合二为一,性价比极高,适合大规模实验室建设需求。同时可灵活选配模拟信号产生、矢量信号产生、模拟调制、矢量调制功能,且支持现场软件升级。我们也实验箱,形成解决方案。集信号源与分析仪于一体,满足实验室建设基本需求的同时极大的节省成本配合针对雷达、通信、射频微波等课程实验箱,形成完备的解决方案,节约教师备课的时间和精力所有功能均可以现场升级,以极低的成本扩展实验设备的功
能源与分析灵活搭配超薄设计,极大的节约测试
台面占用面积三年维保,解除维修的后顾之忧2.外场维护因传统的信号源体积笨重,给外场测试带来很多不便。
现在我们使用IT7600交流
电源和IT8600交流电子负载来测试一个客户的样品 30V/50Hz。根据电磁关工作原理,我们将线圈与电源、负载按如下结构进行接线。为了更方便的进行测试,使用IT8600上位机软件——IT9000_PV8600编辑了一段电流变化程序。设置电流B两种越变电流,电流A持续时间为Ta,电流B持续时间为Tb。那么Ta+Tb则为一个测试周期。