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2025欢迎访问##盐城XTRM-3110PG温度远传监测仪一览表
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通常我们在AutoSetup之后,波形就会出现在屏幕上,然后就可以进行测量分析了,但AutoSetup并不能保证信号被高保真的捕获,高保真捕获信号是要素,否则后续的测量分析都没有意义了,那么我们如何才能更好的观察波形呢,看完本文你就知道了。如何更好的观察波形,本质上就是对感兴趣的点进行重点测量、分析,如何高保真的捕获波形,就要从
示波器信号的过程始说起。信号经过示波器前端电路之后,来到ADC进行模数转换,接下来便要进行信号的重构还原了,这里也就是本文的重点了,示波器的捕获模式。
工程师甚至可以在诊断一个间歇故障之后,对设计进行更改,很快再进行测试。测试的结果可以对设计更改的影响进行的验证。借助扫描系统,电路板设计工程师可以预先测试和解决电磁兼容问题,从而避免产生非预期的一致性测试结果。
扫描仪的诊断功能可以帮助设计团队将辐射测试时间缩短两个数量级以上。EMI近场辐射特性:SSCG示例某一大型半导体厂商在解串器的并行总线上实现了SSCG功能。SSCG功能能够通过将辐射峰值能量扩展到更宽的频带上来减少辐射。
在说调速电机之前,我们先了解一下MAP图的作用。MAP图是什么?电机中的MAP图是电机测试时生成的一种数据曲线图,主要是反映在不同转速、扭矩下的电机效率分布情况,通俗而言就是效率分布图,类似于我们地理课上常见的等高线图。将效率相同的点连成一环线直接投影到平面形成水平曲线,不同效率的环线不会相合。效率值比较接近的位置,线就会相对密集;相反,效率值相差较大的位置,线的间隔也会较大。通常而言,MAP都是利用MATLAB软件,通过将测试点输入电脑画出来的,以转速扭矩为坐标轴,把效率值按照规律连线统计,图上也会根据效率值不同有颜色差异,所以也称色温云图。
本应用测试针对非标称50Ω的线缆,包括同轴、双绞线、差分高速数据线的测试,包括阻抗参数、S参数(插损、驻波、Smith图等等),也可以绘制眼图。根据电缆的性能,如频率范围、长度、是否差分,设置时域门控,可以按照线缆连接的位置,门控选通,获得实际物理线缆的各项参数结果。门控选通测试结果对应被测线缆,不含
接头和夹具以及
其它测试线缆。必要性和难点由于被测线缆不是50Ω标准同轴线缆,可能是高速数据线、差分线等。
ENOB=(SINAD-1.76dB)/6.2,其中1.76为理想ADC的量化噪声,6.2为将log2转化为log1的系数比。很明显,SINAD越大,ENOB越大,而提升SINAD的方法就是重点关注与测试精度有关的电路。在数字示波器的架构中,与测试精度有关的电路有:前端采集电路、ADC采样电路。被测信号经前端采集电路进行调理后传输给ADC进行采样。其中前端采集电路及ADC采样电路对ENOB有较大影响,实际工作时,偏置误差,非线性误差,增益误差,随机噪声,甚至还有ADC交织引起的噪声都会增大ENOB。ENOB说明了什么ENOB是衡量ADC性能的标尺,若示波器ENOB指标好,那么偏置误差、增益误差、非线性度等都较小,同时带宽噪声也较低。如果主要被测信号是正弦波信号,那么ENOB就需要重点关注。通常示波器都由前端电路衰减器、
放大器等信号调理电路、ADC采样电路组成,在设计的时候,会在前端采用各种射频技术,各种频率响应方式,实现的频响平坦度,以便ADC采样时失真,增大ENOB指标。如何判断ENOB的大小3.11.底噪示波器在不同垂直档位及偏置下的底噪大小是评估示波器测量质量的一个重要依据,通过观测底噪大小,可以判断前端采集电路和ADC采样电路设计的优劣,因为示波器的底噪会增加额外的抖动并较小设计裕量,对测试结果造成较大的影响。
什么是SLAM?一张图带你认识它,机器人之思考既是SLAM需要解决的问题。图3SLAM需要解决的问题AGV根据不同的应用场景已衍生出了多种方式,每种方式也许都存在相应的优劣势,但均能找到自己的“用武之地”。AGV方式分析早期的AGV多是用磁带或电磁,这两种方案原理简单、技术成熟,成本低,但是改变或扩展路径及后期的维护比较麻烦,并且AGV只能按固定路线行走,无法实现智能避让,或通过控制系统实时更改任务。
望远镜配置包含了八个子望远镜阵列和光束组合望远镜位于阵列的,用来采集来自子望远镜的光线,并且可以在聚焦平面上产生干涉图像。光学延迟线可以均衡来自每个子望远镜不同波前进入路径的差别, 到达覆盖在上面的聚焦平面。干涉边缘图案样式在聚焦平面上形成,并且具有良好的可见度,在
干涉仪臂之间的光学路径差(OPD)被保持在比相干长度小的范围之内。随着OPD的增加,边缘图案变得越来越黯淡,即其可见度越来越低。这是因为干涉仪并非工作在单一的波长上,而是工作在有限的频带上。