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红外摄像机因为无损检测使用的红外摄像机要以高灵敏度捕捉瞬变现象,因此需要有高时间分辨率的高帧速率。每个像素的空间分辨率由与红外摄像机一起使用的透镜所决定的空间分辨率视角决定,如要检测大型目标和精细区域,要使用高像素的红外摄像机。2.光激发无损检测-光学增强方法的基本原理为光激发无损检测装置概图。该方法分为所示的脉冲热成像和所示的锁相热成像两种。-脉冲热成像的基本原理脉冲热成像方法通过瞬间灯光激发使测量对象出现温度上升,在温度下降的过程中,通过图像显示正常位置和缺陷位置出现的温度变化和时间相位滞后。
实际
传感器中线圈与输出的接线不会变,只是通过铁芯来改变电感,所以R1和R2固定不变。输出电压在上下两个线圈并联电容C1和C2后,分别形成了谐振回路I和回路II。如果铁芯在 下方时:回路II谐振,回路I失谐。当铁芯在 上方时:回路I谐振,回路II失谐。由于谐振电路在谐振时的阻抗会远大于失谐时的阻抗。可以定性地得出,铁芯在 下方时Uout的幅值会比没有电容小,在 上方时会比没有电容时大,所以灵敏度会增大。
就以上的难点,ITECH依托于强大的硬件韧体功能,均已一一突破,并为国内 熔断器商实验室完成了3A熔断时间的系统方案。熔断时间方案优势使用IT89A/E系列负载自带Measure功能量测熔断时间在熔断器熔断时间测试应用中,熔断时间对应下图中从C点下降到E点的时间(正脉宽时间),且时间量测精度可媲美
示波器.量测时间的测定通过上位机软件发送指令,,测试
电源电压从1V到8V,电流从1A到5A的上升和下降时间,可以发送如下指令:在熔断器测试方案中,主要应用到IT89A/E系列大功率负载和IT6系列大功率电源。
了解了隔离与非隔离DUT设备区别后,我们通过以下图片了解CANDT系统中隔离与非隔离的接线区别以及其对测试的影响。隔离供电电路连接图非隔离供电电路连接图软件设置供电类型隔离与非隔离对测试的影响,四种测试情况:被测件隔离供电,选用隔离供电测试;DUT接入隔离供电端口,系统设置中被测设备设置为隔离供电,测试可正确进行;被测件非隔离供电,选用非隔离供电测试;DUT接入非隔离供电端口,系统设置中供电类型选择非隔离供电,测试可正确进行;被测件隔离供电,选用非隔离供电测试;DUT接入隔离供电端口,系统设置中供电类型选择非隔离供电,此时无法形成供电回路,DUT无法正常工作。
当波形捕获出来后很多工程师觉得波形占屏幕2格就可以很清晰了,没必要将波形调到铺满屏幕格子去看。其实这是一个误区,今天我们就来看看为什么要让波形铺满示波器屏幕的格子。2格显示和尽量满格显示 明显的就是,波形被“拉长”了,也就是垂直档位变小了,而垂直档位的变化直接影响了垂直测量的准确性。这其中 重要就是示波器8位ADC与垂直量测量的关系。
尺子测量就比如用1米尺子和用10厘米的尺子去量1.6cm的物件,米尺可能量出来的就是2cm,或很难去估算,而10厘米的尺子量出来的就是1.6cm。
结构清晰的测试数据可让工程师将基本统计数据分析应用于人工智能和机器学习,从而将Python、R和TheMathWorks,Inc.MATLAB软件等常用工具集成到工作流程中,进而从数据中提取更多有用的信息。发、部署和管理测试软件传统的 桌面应用程序正在逐步转向基于网络的应用程序。这种转变使得测试难以实现。首先,需要在被测设备(DUT)上进行实时计算,以海量数据并实时出测试通过/失败的决策,同时本地操作员需要与测试设备和DUT进行交互。
测试仪器来说是很重要的,是影响我们判断接地是否良好的重要因素之一。其中使用方法是否正确也是重要的一个方面,您可以参考正确选择接地电阻测试仪的方法文中的介绍。如果测试的结果不准确会给我们带来很大的隐患,不仅仅浪费了人力、物力,也许会给接地设备带来一些安全隐患,所以接地电阻测试仪在测试的时候有可能因为一些因素而导致误差。下面电子测试仪器网小编为您介绍影响接地电阻测试仪测试结果的因素都有哪些,以及相应的解决措施。