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的产品、的服务、的信誉，承蒙广大客户多年来对我公司的关注、支持和参与，才铸就了湖南盈能电力科技有限公司在电力、石油、化工、铁道、冶金、公用事业等诸多领域取得的辉煌业绩，希望在今后一如既往地得到贵单位的鼎力支持，共同创更加辉煌的明天！
50Ω直接连接的响应被用作参考波形。有源探头响应与参考波形几乎无法区分。由于输入电容较高，无源探头响应有圆角。注意测量的上升时间。参考波形的上升时间（参数读数P1）为456皮秒(ps)，有源探头(P2)的上升时间则为492皮秒。无源探头的上升时间(P3)为1.8纳秒(ns)。在带宽相同的情况下，有源探头的性能通常优于无源探头。但还必须记住，有源探头需要电源。由于这个原因，有源探头几乎针对不同商的示波器均了 连接器。
可偏偏电动汽车电机，特别是乘用车电机，动辄上万rpm的转速，让磁粉制动器直接出局。磁滞制动器：和磁粉相反，可以输出很高的转速，但输出扭矩收到很大的局限，只能输出小扭矩（100N.m以内）。对于 扭矩输出非常常见），磁滞又无法满足需求。电涡流制动器：支持大扭矩、高转速的扭矩输出，但在额定转速范围内（一般是2600~3000rpm），转矩输出和转速输出是成正比的，无法满足低速（几百rpm）情况下的大扭矩输出。
半导体生产流程由晶圆，晶圆测试，芯片封装和封装后测试组成，晶圆和芯片封装讨论较多，而测试环节的相关知识经常被边缘化，下面集中介绍集成电路芯片测试的相关内容，主要集中在WAT，CP和FT三个环节。集成电路设计、、封装流程示意图WAT（WaferAcceptanceTest）测试，也叫PCM（ProcessControlMonitoring），对Wafer划片槽（ScribeLine）测试键（TestKey）的测试，通过电性参数来监控各步工艺是否正常和稳定，CMOS的电容，电阻，Contact，metalLine等，一般在wafer完成制程前，是Wafer从Fab厂出货到封测厂的依据，测试方法是用ProbeCard扎在TestKey的metalPad上，ProbeCard另一端接在WAT测试机台上，由WATRecipe自动控制测试位置和内容，测完某条TestKey后，ProbeCard会自动移到下一条TestKey，直到整片Wafer测试完成。
从安全方面考虑，三个机柜都必须接大地，强电线路与信号线分避免干扰这些都是要遵循的基本原则。实际机柜间位置较远，接地对于高频干扰改善不多，只作为安全措施。解决这种问题一般考虑是从干扰源、传播路径、敏感设备三方面着手。驱动器和PA是成型的设备，不便于改动，考虑从传播路径入手，使用多芯屏蔽电缆连接扭矩传感器到测控柜，传感器端屏蔽层连接到传感器外壳，也与电机连通，另一侧屏蔽层接到测控柜机壳。 初的时候屏蔽层通过一根较长的线连接到测控柜，发现并没有改善， 使用铜片将整根线压到机柜，干扰得到很大衰减。
YT模式是示波器中 常见的，其坐标系Y轴为通道输入信号，上正下负，参考地为零点，X轴为时间，左负右正，触发点为零点。YT模式还可进一步细分为普通、滚动、单/双ZOOM、插值模式，下面将重点介绍 常用的普通模式。YT模式 常见的是普通模式，示波器一般工作在此模式下，其特点如下：采样是分次且独立的，采样之间存在死区，可设置触发条件，波形在采样完成后输出，对于周期信号一般可以稳定显示。优点：适用于观察周期性信号，眼图，低概率的异常信号，可对数据进行强大的，如测量、解码等，是 常用的示波模式。
电力电子飞速发展，产品研发对供电交流电源更高要求，即具备高精度、可编程、宽范围等优势的可编程交流电源。本篇简要介绍PWR系列高性能可编程交流电源的波形编辑功能和典型应用。波形编辑功能可编程电源特点是具备波形编辑功能，可通过上位机或机身操作面板进行编辑设定自定义输出波形，比如设置实现输出1s的220V正弦波，而后再输出1s的110V方波。PWR系列高性能可编程交流电源的波形编辑功能非常强大与丰富，主要有波形库调用、线路、步阶功能（Step），序列功能（List）、符合IEC标准的电压输出、波形导入还原输出等。
既然测量系统的检测功能与投影比较仪有相似之处，为什么不能将两种仪器合而为一呢？为此，Starrett公司在它的卧式投影比较仪上重新设计了OV2光学/转接器，以增强其易用性。该公司自几年前 发出OV2系统后，现在对于在投影比较仪上使用测量系统的效益抱有更高的预期。为此，公司更换了系统原有的硬件联接方式，将图像输出与投影比较仪的读数器组合到QC300触摸显示屏上。该系统可通过切换在HD400投影比较仪滑轨上的两组透镜，实现光学测量方式与测量方式的相互转换。