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两个 常见的传统方法为1.与色散光的物理扫面组合在一起的单个元件（或单点）探测器，以及2.将色散光成像于一个探测器阵列上。在种方法中，来自光栅的色散光被聚焦在单个探测器上。为了分析多个波长上的功率，光栅（通常情况下如此）或者聚焦元件必须适当地旋转，以便将来自每个波长的光调节到探测器上。要执行扫描，与探测器相关的电子元器件必须与光栅的运动同步，这样的话，测得的功率就与正确的波长相一致。这就要求机械旋转系统非常，并因此在体积方面变得十分庞大，而这也限制了这个方法在实验室之外的实用性。
红外热像仪能对零度以上物体发出的热辐射生成热图像。通过每一个像素的温度测量值，研究人员可以以非接触的方式对某一场景进行观察和测温。由于红外热像仪的数据比热电偶或点温仪要多，而且可以追踪随时间推移所发生温度变化，所以他们非常适合用于研究和工程设计项目。制冷型与非制冷型红外探测器红外探测器大体可分为两类：一类是热探测器，另一类是量子探测器。热探测器，比如微测辐射热计，会对射入的辐射能产生反应，加热像素，通过电阻的变化来反映出温度的变化。
经典Buck拓扑电路传统LDO稳压（左）与BUCK稳压（右）集成Buck降压转换芯片你可能会疑问，非隔离Buck电源为什么能够有这样的优势呢？非隔离Buck电源之所以能有这样的优势，（是由于使用了高集成的Buck芯片）是由于使用了集成Buck降压转换芯片，该芯片以Buck拓扑为框架将各种保护电路嵌入芯片内，使得Buck降压电源模块更加安全可靠。下为某品牌的小体积降压转换芯片内部电路框图，其尺寸长宽仅为3mmx2mm，具有短路保护、过热关断保护、欠压保护等功能，电路环路采用电压、电流双环控制，使得系统的稳定性更好，拥有不错的电压调整率与负载调整率，并且该类IC为了提高轻载效率，在轻载时自动进入调频模式，通过降低关频率及损耗来提高轻载效率。
使用组合透镜系统对物体成像，实现加电时液晶透镜区域清晰，具有大视场、局部高分辨率的效果。本文通过实验测量分析模组光圈与液晶透镜匹配、液晶透镜位置等对于成像质量的影响。研究方向：液晶透镜成像系统测试目的：展示成像系统对于局部区域的清晰成像效果，测量不同位置、不同光圈下成像系统的MTF，分析其对于成像质量的影响。测试设备:相机、镜头、函数发生器、功率放大器ATA-24组合透镜系统放大器型号:AigtekATA-242实验过程：1.实验室液晶透镜，并通过干涉法获取波前信息，分析得到zernike系数，得到液晶透镜的性能参数，以选择合适的驱动电压；成像系统，对不同区域的物体进行成像实验；使用ISO12233板对成像系统进行对焦测试，测试不同光圈、不同液晶透镜位置的MTF值。
按DG1Z存储与调用界面中的菜单键文件类型选择“任意波文件”，然后将DG1Z的浏览器菜单设置为“目录”，使用DG1Z的旋钮将焦点光标至示波器的型号标识符DS114Z上，此时在“文件/文件夹显示区”会显示示波器所有通道及各通道的关状态。再将DG1Z中的浏览器菜单设置为“文件”，将光标到所需要读取的通道上，然后按读取键。此时，示波器会自动进入停止状态，DG1Z自动读取任意波数据（即示波器采集到的波形数据），并在读取完后将其保存至DG1Z当前通道的内部易失存储器中且自动切换至任意波（Ar模式。
如此短的“快照速度”可以定格画面，准确测量非常快的瞬时变化。FLIR锑化铟制冷型热像仪拍摄的FA-18大黄蜂战斗机的定格画面相反，非制冷型热像仪，比如FLIRT13sc，它的像素由随温度产生明显电阻变化的材料组成。而且，每一个像素的温度都会升高或降低。其电阻随温度的变化而变化，并可测量其数值，同时通过校准流程映射至目标温度。现今配备的微测辐射热计红外热像仪的快照速度或“时间常数”一般为8-12ms。
欠补偿或过补偿的探头会引入幅度、上升时间和被测信号波形失真测量的严重误差。探头为具体的测量任务选用合适的探头总会得到的测量结果。通常，对于通用测量，10:1探头就足够了;但对于低幅度信号测量，您可能要考虑使用1:1探头。在进行高速测量时，应该着重考虑探头电容。具有大电容值的探头会减缓上升和下降沿，而且在检测某些器件(高速运放)的输入或输出端时，甚至会引起这些器件产生振荡。测量高速电路的另外一点考虑是使用有源FET探头。